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溫濕度偏壓壽命試驗箱 是一種用于對產(chǎn)品進行高加速應力測試的設(shè)備，旨在在短時間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。 廣泛應用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評估，特別是高可靠性要求的航空航天、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。

高壓加速老化試驗箱 是一種用于對產(chǎn)品進行高加速應力測試的設(shè)備，旨在在短時間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。 廣泛應用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評估，特別是高可靠性要求的航空航天、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。

hast試驗箱 高溫 高濕 高壓可靠性 適用標準：GB/T2423.40 / IEC60068-2-66、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D、JESD22-A118-A。

高速壽命試驗箱是一種用于對產(chǎn)品進行高加速應力測試的設(shè)備，旨在在短時間內(nèi)模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。